2021哈爾濱理工大學(xué)高分子材料研究生考試大綱 正文

高分子材料研究方法

參考書(shū)目：

《聚合物研究方法》.張美珍主編.輕工出版.2000.6

一、考試要求

要求考生掌握高分子材料結(jié)構(gòu)與性能測(cè)試中重要的基本概念與基本原理。包括紅外光譜、拉曼光譜、核磁共振波譜、凝膠滲透色譜、差熱掃描量熱儀、熱失重、透射電鏡、掃描電鏡的基本原理、實(shí)驗(yàn)技能及應(yīng)用。具有理論分析和解決高分子材料結(jié)構(gòu)與性能測(cè)試領(lǐng)域的實(shí)際問(wèn)題的基本能力。

二、試卷結(jié)構(gòu)

總分30分
內(nèi)容比例：
1．紅外光譜、拉曼光譜約30%
2．核磁共振波譜約20%
3．凝膠滲透色譜約10%
4．差熱掃描量熱儀、熱失重約30%
5．透射電鏡、掃描電鏡約10%
題型比例：
1．原理   約30％
2．應(yīng)用   約70％

三、考試內(nèi)容與要求

1.紅外光譜、拉曼光譜：紅外光譜和拉曼光譜的基本概念及儀器特點(diǎn)，紅外光譜與拉曼光譜的制樣方法及解析方法。
2.核磁共振波譜：核磁共振波譜的基本原理和儀器特點(diǎn)，化學(xué)位移與結(jié)構(gòu)的關(guān)系，¹HNMR和¹³CNMR共振譜解析方法。
3.凝膠滲透色譜：凝膠滲透色譜的原理和儀器特點(diǎn)，凝膠滲透色譜在高分子中的應(yīng)用。
4.差熱掃描量熱儀、熱失重：DSC、TG基本原理及儀器特點(diǎn)，DSC、TG在高分子中的應(yīng)用。
5.透射電鏡、掃描電鏡：TEM、SEM的基本原理及儀器特點(diǎn)，TEM、SEM樣品的制備方法及應(yīng)用。

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