中國計(jì)量大學(xué)計(jì)量測試工程學(xué)院導(dǎo)師：王道檔 正文

　　基本信息
　　姓名：王道檔
　　性別：男
　　學(xué)位：博士
　　職稱：講師
　　一級(jí)學(xué)科：儀器科學(xué)與技術(shù)
　　二級(jí)學(xué)院：計(jì)量測試工程學(xué)院
　　研究方向：光電精密檢測技術(shù)
　　辦公地點(diǎn)：仰儀北樓506
　　移動(dòng)電話：13588457882
　　Email：wangdaodang@cjlu.edu.cn

　　在研課題
　　主持浙江省自然科學(xué)基金青年基金1項(xiàng)
　　主持國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室開放課題1項(xiàng)
　　另有在研企業(yè)合作項(xiàng)目1項(xiàng)

　　獲獎(jiǎng)情況
　　中國光學(xué)學(xué)會(huì)“王大珩光學(xué)獎(jiǎng)”

　　近期發(fā)表的主要成果
　　[1]D. Wang, F. Wang, Y. Yang, et al, "Modified polarization point diffraction interferometer with extended measurable NA for spherical surface testing," Optik - International Journal for Light and Electron Optics, 2013, 124(22): 5481-5485.(SCI收錄)
　　[2]D. Wang, Y. Yang, C. Chen, et al, "Calibration of Geometrical Systematic Error in High-Precision Spherical Surface Measurement," Opt Commun, 2011, 284(16): 3878-3885.(TOP級(jí)SCI)
　　[3]D. Wang, Y. Yang, C. Chen, et al, "Point diffraction interferometer with adjustable fringe contrast for testing spherical surfaces," Appl Optics, 2011, 50(16): 2342-2348.(TOP級(jí)SCI)
　　[4]D. Wang, Y. Yang, C. Chen, et al, "Misalignment Aberrations Calibration in Testing of High-Numerical-Aperture Spherical Surfaces," Appl Optics, 2011, 50(14): 2024-2031.(TOP級(jí)SCI)
　　[5]D. D. Wang, Y. Y. Yang, D. Liu,et al, "High-precision technique for in-situ testing of the PZT scanner based on fringe analysis," Opt Commun, 2010, 283(16): 3115-3121.(TOP級(jí)SCI)
　　[6]王道檔，楊甬英，陳曉鈺，等，“基于差分方法的高精度球面調(diào)整誤差校正，”光電子•激光，2013，24（1）：127-132．（EI收錄）
　　[7]王道檔，楊甬英，陳曉鈺，邵衛(wèi)紅，卓永模，“高精度球面檢測中調(diào)整誤差的精確校正，”納米技術(shù)與精密工程，2013，11（1）：20-26．（EI收錄）
　　[8]王道檔，楊甬英，邵衛(wèi)紅，等，“球面干涉檢測中改進(jìn)的調(diào)整誤差校正方法，”浙江大學(xué)學(xué)報(bào)（工學(xué)版），2012，46（10）：1932-1936．（EI收錄）
　　[9]王道檔，楊甬英，陳琛，等，“點(diǎn)衍射球面檢測中的斜反射波前像差校正，”光學(xué)學(xué)報(bào)，2011，31（6）：0612003．（EI收錄）
　　[10]王道檔，楊甬英，駱永潔，等，“基于模板匹配算法的壓電微位移原位測量技術(shù)，”儀器儀表學(xué)報(bào)，2010，31（3）：530-535．（EI收錄）
　　[11]王道檔，楊甬英，陳琛，等，“模板匹配算法在高精度壓電微位移測量中的應(yīng)用，”納米技術(shù)與精密工程，2010，8（4）：374-379．（EI收錄）
　　[12]D. Wang, Y. Yang, C. Chen,et al, "Polarization point-diffraction interferometer for high-precision testing of spherical surface,"SPIE, 2010:76560F.（EI收錄）

　　個(gè)人簡歷
　　2012年-至今 中國計(jì)量學(xué)院計(jì)量測試工程學(xué)院 教師
　　2012年 中國計(jì)量科學(xué)研究院 訪問學(xué)者
　　2007-2012年 浙江大學(xué)光學(xué)工程專業(yè) 博士研究生
　　2003-2007年 中國計(jì)量學(xué)院測控技術(shù)與儀器專業(yè) 本科

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