2021寧波大學(xué)集成電路工藝原理研究生考試大綱及參考書(shū)目

發(fā)布時(shí)間:2020-11-24 編輯:考研派小莉 推薦訪問(wèn):
2021寧波大學(xué)集成電路工藝原理研究生考試大綱及參考書(shū)目

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2021寧波大學(xué)集成電路工藝原理研究生考試大綱及參考書(shū)目 正文

    2021年寧波大學(xué)碩士研究生招生考試復(fù)試科目
    考 試 大 綱
    科目代碼、名稱:集成電路工藝原理
    一、考試形式與試卷結(jié)構(gòu)
    (一)試卷滿分值及考試時(shí)間
    本試卷滿分為100分,考試時(shí)間為120分鐘。
    (二)答題方式
    答題方式為閉卷、筆試。試卷由試題和答題紙組成;答案必須寫(xiě)在答題紙(由考點(diǎn)提供)相應(yīng)的位置上。
    (三)題型結(jié)構(gòu)
    簡(jiǎn)答題和綜合題。
    二、考試科目簡(jiǎn)介
    集成電路工藝原理課程是微電子學(xué)、電子科學(xué)與技術(shù)和其他相關(guān)專業(yè)的理論基礎(chǔ)課。作為微電子科學(xué)專業(yè)的碩士研究生,要求對(duì)于集成電路工藝中涉及的基本概念及原理有比較深入的了解和掌握。以當(dāng)代超大規(guī)模集成電路的小尺寸特征為切入點(diǎn),圍繞抑制小尺寸效應(yīng)的現(xiàn)代工藝技術(shù),展開(kāi)介紹了目前較為成熟的集成電路制造工藝技術(shù),重點(diǎn)考試核心工序及關(guān)鍵制造工藝過(guò)程的基本原理,其中包括氧化、擴(kuò)散、離子注入、薄膜淀積、光刻、刻蝕、金屬化工藝以及工藝集成等內(nèi)容。
    三、考試內(nèi)容及具體要求
    (一)熟練掌握集成電路制造技術(shù)的發(fā)展歷程,集成電路制造技術(shù)特點(diǎn),其中包括:集成電路的分類及其特點(diǎn),摩爾定律,制備技術(shù)要求和面臨的挑戰(zhàn)與發(fā)展機(jī)遇。
    (二)熟練掌握集成電路制造工藝過(guò)程中材料的特性與制備,其中包括:硅晶體的結(jié)構(gòu)特點(diǎn),硅晶體中的雜質(zhì)和缺陷,多晶硅的制備與純化,單晶硅的生長(zhǎng)與切片。
    (三)熟練掌握薄膜淀積的基本原理,其中包括:外延技術(shù)(氣相外延、分子束外延、液相外延,外延缺陷與外延層檢測(cè)),化學(xué)氣相淀積(CVD工藝原理、工藝方法,CVD生長(zhǎng)二氧化硅、氮化硅以及多晶硅薄膜),物理氣相淀積(真空系統(tǒng)、真空蒸鍍、濺射原理、等離子體)。
    (四)熟練掌握熱氧化的基本原理,其中包括:硅的熱氧化,初始氧化階段及薄氧化層制備,熱氧化過(guò)程中雜質(zhì)的再分布,氧化層質(zhì)量及檢測(cè)。
    (五)熟練擴(kuò)散和離子注入等摻雜技術(shù)的基本原理,其中包括:晶體中熱擴(kuò)散的基本特點(diǎn)與宏觀動(dòng)力學(xué)方程,雜質(zhì)的擴(kuò)散摻雜,影響雜質(zhì)分布的因素。離子注入的原理,注入離子在靶中的分布,注入損傷,離子注入設(shè)備與工藝,摻雜新技術(shù)。
    (六)熟練掌握光刻工藝和光刻技術(shù)的基本原理,其中包括:光刻工藝基本流程,光刻膠,正性與負(fù)性光刻,對(duì)準(zhǔn)與曝光技術(shù),顯影,光刻設(shè)備,光學(xué)分辨率增強(qiáng)技術(shù),光刻掩模版,熟悉光刻技術(shù)中的常見(jiàn)問(wèn)題。
    (七)熟練掌握刻蝕技術(shù)的基本原理,其中包括:濕法刻蝕和干法刻蝕,刻蝕工藝要求,刻蝕應(yīng)用舉例,刻蝕技術(shù)新進(jìn)展。
    (八)熟練掌握金屬化與互連的基本原理,其中包括:硅-金屬的接觸,鎢填充塞,Cu金屬互連,CMP工藝和多層互連等。
    (九)了解工藝集成與監(jiān)控、封裝與測(cè)試的基本原理:CMOS集成電路工藝,雙極型集成電路工藝,工藝實(shí)時(shí)監(jiān)控與檢測(cè),集成結(jié)構(gòu)測(cè)試圖形、芯片封裝技術(shù),集成電路測(cè)試技術(shù)。
    四、參考教材或主要參考書(shū)
    1.《現(xiàn)代集成電路制造工藝原理》李惠軍等編,山東大學(xué)出版社,2006年;
    2.《集成電路制造技術(shù)-原理與工藝》王蔚等編,電子工業(yè)出版社,2013年。
寧波大學(xué)

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